SICA-2000 光譜圖像測色分析儀
高光譜測色專利技術(shù) “無法測量的材料”實現(xiàn)數(shù)字化顏色測量
典型應用場景
SICA-2000光譜圖像測色分析儀采用遠方高光譜測色專利技術(shù)，采用CIE D/8測量幾何，可快速獲得混色、形狀不規(guī)則以及小尺寸等材料的光譜圖像，并對圖像各區(qū)域的顏色和光譜進行分析，并可對“無法測量的材料”實現(xiàn)數(shù)字化高精度測量，非常適用于紡織品、紡織飾物（紐扣、按鈕、拉鏈等）、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行業(yè)。
主要特點
1、符合CIE標準D/8測量幾何要求，同時具備SCI和SCE測量條件。
2、采用高性能光源，長期穩(wěn)定性好，光源壽命更長。
3、多方位監(jiān)控以及補償設計，保證測試結(jié)果的重復性更高、穩(wěn)定性更好。
4、采用遠方高光譜引擎，圖像分辨率高，空間測量分辨率更高。
5、專利的軟硬件系統(tǒng)設計提供了極高的光譜測試的準確度以及解析力，保證測試的準確性
主要技術(shù)指標
遠方公眾號
