遠(yuǎn)方熱阻結(jié)構(gòu)測試技術(shù)獲得美國發(fā)明專利授權(quán)
發(fā)布時(shí)間：2018-11-22
眾所周知，LED對熱特別敏感，無論對于LED封裝、模塊，還是LED燈和燈具（以下統(tǒng)稱為LED器件），良好的熱管理都是提升其品質(zhì)的重要方面。不良的散熱將直接導(dǎo)致LED器件的PN結(jié)溫過高，進(jìn)而導(dǎo)致光輸出下降、顏色漂移、壽命降低等問題。一般情況下，LED器件的功率越大，對熱管理的要求越高。
熱阻是衡量LED器件散熱水平的重要參數(shù)，傳統(tǒng)的熱阻測試僅能獲得器件整體的熱阻值，無法反映器件內(nèi)部的熱阻結(jié)構(gòu)，而在內(nèi)部細(xì)節(jié)缺失的情況下去提升LED散熱能力是非常有限的。為了實(shí)現(xiàn)良好的熱管理，有必要對器件內(nèi)部的熱阻結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入細(xì)致的分析，這就好比借給了研發(fā)工程師一雙看清LED熱流的眼睛。
遠(yuǎn)方自主研究和開發(fā)的熱阻分析方法，通過建立被測對象的熱傳導(dǎo)數(shù)學(xué)模型，可準(zhǔn)確獲取被測對象接觸界面的熱阻以及各熱傳導(dǎo)部件內(nèi)部的熱阻分布，實(shí)現(xiàn)被測對象熱阻結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確量化分析。
日前，遠(yuǎn)方公司收到了美國專利商標(biāo)局頒發(fā)的《熱阻分析方法》發(fā)明專利證書（證書號US 10,094,792B2），在經(jīng)過5年的審查后，獲得美國專利授權(quán)，此前該技術(shù)已獲得中國發(fā)明專利授權(quán)。
基于發(fā)明專利，遠(yuǎn)方公司已經(jīng)開發(fā)了TRA200/300系列熱阻分析儀，通過對LED器件的熱阻結(jié)構(gòu)分析，為其散熱設(shè)計(jì)提供重要依據(jù)和評判手段，具有測試精度高、速度快的優(yōu)勢。TRA-200適用于中小功率LED器件，TRA-300適用于COB封裝的大功率LED以及LED模組等。
熱阻是衡量LED器件散熱水平的重要參數(shù)，傳統(tǒng)的熱阻測試僅能獲得器件整體的熱阻值，無法反映器件內(nèi)部的熱阻結(jié)構(gòu)，而在內(nèi)部細(xì)節(jié)缺失的情況下去提升LED散熱能力是非常有限的。為了實(shí)現(xiàn)良好的熱管理，有必要對器件內(nèi)部的熱阻結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入細(xì)致的分析，這就好比借給了研發(fā)工程師一雙看清LED熱流的眼睛。
遠(yuǎn)方自主研究和開發(fā)的熱阻分析方法，通過建立被測對象的熱傳導(dǎo)數(shù)學(xué)模型，可準(zhǔn)確獲取被測對象接觸界面的熱阻以及各熱傳導(dǎo)部件內(nèi)部的熱阻分布，實(shí)現(xiàn)被測對象熱阻結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確量化分析。
日前，遠(yuǎn)方公司收到了美國專利商標(biāo)局頒發(fā)的《熱阻分析方法》發(fā)明專利證書（證書號US 10,094,792B2），在經(jīng)過5年的審查后，獲得美國專利授權(quán)，此前該技術(shù)已獲得中國發(fā)明專利授權(quán)。
基于發(fā)明專利，遠(yuǎn)方公司已經(jīng)開發(fā)了TRA200/300系列熱阻分析儀，通過對LED器件的熱阻結(jié)構(gòu)分析，為其散熱設(shè)計(jì)提供重要依據(jù)和評判手段，具有測試精度高、速度快的優(yōu)勢。TRA-200適用于中小功率LED器件，TRA-300適用于COB封裝的大功率LED以及LED模組等。
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