PCE-2000 積分球光色電測試系統(tǒng)
以HAAS-2000高精度快速光譜輻射計為核心的實驗室級解決方案
典型應用場景
PCE-2000光色電測試系統(tǒng)主要用于測試OLED的外量子效率、光通量、光效、光功率、相對光譜功率分布、色品坐標、色溫、主波長、峰值波長、光譜半寬度、顯色指數(shù)、色純度、紅色比、色容差、電壓、電流、電流密度及電流效率等參數(shù)。
主要特點
一、低雜散光
通過改良設計后高度匹配度的高精度光柵和科學級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術和雜散光校正技術，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
二、寬線性動態(tài)測量范圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學級陣列探測器具有更寬的線性動態(tài)范圍，且光學匹配改造設計后，儀器的動態(tài)范圍進一步拓寬。此外，SBCT技術也大輻提高了HAAS-2000的線性動態(tài)范圍。
三、毫秒級測試速度
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩(wěn)態(tài)特性，而且可以測量它們瞬態(tài)光學特性，完全符合相關標準的規(guī)定。在儀器的靈敏度范圍內(nèi)，無論被測光的瞬態(tài)脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發(fā)功能實現(xiàn)快速的全光譜測量。HAAS-2000采用科學級陣列探測器代替機械掃描系統(tǒng)，可以在極短的測量時間內(nèi)（毫秒級）完整完成精確測量整個光譜范圍。
四、科學級測量精度
HAAS-2000專為高精度應用場合設計，通過對世界頂級商用科學級制冷型陣列探測器和精密光柵進行改良設計，使其更加匹配，再配以精密的光學系統(tǒng)和電子線路，同時采用多項專利技術，整個系統(tǒng)可以實現(xiàn)高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態(tài)范圍，從而實現(xiàn)精確測量的目的。
五、獲得多項專利和證書
核心光譜儀獲得：國家863計劃研究成果，獲美國專利授權，“中國專利優(yōu)秀獎”，“國家首批自主創(chuàng)新產(chǎn)品”，“國家重點新產(chǎn)品”榮譽。
主要技術指標
遠方公眾號
