HAG-2000 基準(zhǔn)級(jí)光澤度儀
變角度測(cè)量，不確定度滿足國(guó)家基準(zhǔn)級(jí)要求
典型應(yīng)用場(chǎng)景
HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級(jí)光澤度絕對(duì)和相對(duì)測(cè)量的科學(xué)級(jí)儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測(cè)量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及絕對(duì)鏡面反射率分布曲線。絕對(duì)測(cè)量方式避免了相對(duì)測(cè)量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測(cè)板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測(cè)量誤差，測(cè)量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測(cè)量重復(fù)性好。
主要特點(diǎn)
1、光澤度測(cè)量不確定度U≤0.7，(k=3)，滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求。
2、光澤度絕對(duì)和相對(duì)測(cè)量可選。
3、采用精密對(duì)準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)角度精確定位，角度精度高達(dá)0.01。
4、探測(cè)器接收立體角參考ISO，ASTM，GB，TAPPI, JIS等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量幾何要求設(shè)計(jì)，精確接收鏡面反射光。
5、內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)裝置，可隨時(shí)校正和校零，使測(cè)試更精確。
6、光源與探測(cè)器通過(guò)濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V（λ）。
7、掃描各角度的反射率分布曲線，還可以比較標(biāo)準(zhǔn)和被測(cè)樣品的表面分布差異。
主要技術(shù)指標(biāo)
遠(yuǎn)方公眾號(hào)
